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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
1998Structural characterization of μc-Si:H films produced by R.F. magnetron sputteringCerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.; Andritschky, M.; Costa, Manuel F. M.ArtigoAcesso aberto
15-Abr-1998Structural and optical studies of CdS nanocrystals embedded in silicon dioxide filmsRolo, Anabela G.; Conde, O.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
Jan-1998Growth and characterisation of cadmium sulphide nanocrystals embedded in silicon dioxide filmsRolo, Anabela G.; Vieira, L. G.; Gomes, M. J. M.; Ribeiro, J. L.; Belsley, M.; Santos, M. P. dosArtigoAcesso restrito UMinho
1995Microcrystalline silicon thin films prepared by RF reactive magnetron sputter depositionCerqueira, M. F.; Andritschky, M.; Rebouta, L.; Ferreira, J. A.; Silva, M. F.ArtigoAcesso aberto
Dez-1998The effect of size dispersion on the optical absorption of a system of semiconductor quantum dotsVasilevskiy, Mikhail; Akinkina, Evgenia; Paula, Ana Maria de; Anda, EnriqueArtigoAcesso aberto
1999Temperature dependence of the first order Raman scattering in thin films of mc-Si:HCerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
1997Photoluminescence and structure properties from mu c-Si:H and mu c-Si:H-PS samplesVentura, P. J.; Cerqueira, M. F.; Carmo, M. C.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
1996Effective dielectric response of semiconductor compositesVasilevskiy, Mikhail; Anda, EnriqueArtigoAcesso aberto
1997Optical modulation spectroscopy of hydrogenated microcrystalline siliconCerqueira, M. F.; Jansen, John A.; Adriaenssens, G. J.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
1998Density of vibrational states in highly disordered systems through Raman scattering and atomic-scale simulationCarles, R.; Zwick, A.; Moura, C.; Djafari-Rouhani, M.ArtigoAcesso aberto
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