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Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
2014 | IBA study of SiGe/SiO2 nanostructured multilayers | Barradas, N. P.; Alves, E.; Vieira, E. M. F., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |
2013 | On the formation of an interface amorphous layer in nanostructured ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films integrated on Pt-Si and its effect on the electrical properties | Silva, J. P. B.; Sekhar, K. C.; Rodrigues, S. A. S., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |
24-Jul-2017 | SiGe layer thickness effect on the structural and optical properties of well-organized SiGe/SiO2 multilayers | Vieira, E. M. F.; Toudert, J.; Rolo, Anabela G., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |